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SGW X-4B熔點(diǎn)儀
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SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀
特點(diǎn):測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。主要技術(shù)參數(shù):熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃ 測量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時) ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時) 溫度顯示zui小值:0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式: 雙目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40-100X
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上海屹利科學(xué)儀器有限公司 www.elab17.com
上海屹利科學(xué)儀器有限公司(杭州辦)
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